Iijima Y., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Tobita H., Nakamura N., Kikutake R., Daibo M., Nagata M.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Kutami H., Kikutake R., Daibo M., Suzuki R.
Ключевые слова: patents, HTS, coated conductors transposed, coated conductors multifilamentary, coils, fabrication
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, buffer layers, high rate process, microstructure
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: patents, ac losses, coils pancake, coated conductors, design, power equipment
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, template layers, fabrication, critical current density, critical caracteristics, length
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, buffer layers, IBAD process, texture, microstructure, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, substrate Ni, IBAD process, long conductors, texture, growth rate, fabrication, length
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp), Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: TFA-MOD process, reel-to-reel process, HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, fabrication, growth rate, modeling, numerical analysis, new
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S., Suzuki K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, review, fabrication
Teranishi R., Fuji H., Aoki Y., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, review, YBCO, critical current, thickness dependence, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Miyata S., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Nomoto S., Matuda J.
Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Yamada Y.(yamada@istec.or.jp), Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, optical imaging, measurement technique, length
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Yajima A., Matsuda J.S., Koyama S., Nakaoka K.
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Koyama T., Matuda J.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, reel-to-reel process, TFA-MOD process, current distribution, fabrication
Goto T., Teranishi R., Fuji H., Kaneko A., Murata K., Aoki Y., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Matsuda J.(jmatsuda@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Matsuda J.S., Koyama S., Nakaoka K.
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, modeling, numerical analysis, fabrication
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Goto T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Honjo T., Yajima A., Kaneko A.(akaneko@istec.or.jp), Matsuda J.S., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, resistivity, fabrication
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Honjo T.(honjo@istec.or.jp), Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Shibata J., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp)
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp)
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.